AOIP sera présente au CIM 2017 qui se tiendra à Paris du 19 au 21 septembre 2017 http://www.cim2017.com/ Un Village Métrologie, sur l’exposition, élargi avec le Réseau Mesure Quelques sujets clés : mesures dynamiques, fabrication additive, data métrologie, nouvelle ISO …
AOIP était présente au salon Mesures solutions expo qui s’est tenu a Lyon, à l’espace tête d’or, le 31 mai et 1er juin. Nous avons eu plaisir à accueillir un très grand nombre de visiteurs sur notre stand à cette …
La nouvelle version de Visulog est en ligne elle permet de piloter les fours Ametek Jofra type CTC; elle approrte des améliorations au niveau de la gestion de licence sous Windows 10. Son téléchargement est gratuit. vous pouvez l’essayer pendant …
AFNOR Certification a émis une décision positive concernant le renouvellement de la certification de notre système de Management selon la norme : ISO 9001 2008. L’ensemble des équipes AOIP est heureuse de vous faire partager cette excellente nouvelle
La nouvelle version F.21 de VISULOG est maintenant disponible en téléchargement. Découvrez ici les nombreuses améliorations apportées par cette version: – Nouvelles fonctions de calcul: Ajout des fonctions IIF, GETMEM, SETMEM, GETTARE, SETTARE, MEASTARE, ECTEV, ECTEVT. – Gestion des blocs mémoire: Ajout option …
Afin de remplir ses obligations, AOIP adhère à Récylum et finance la filière de collecte et de recyclage agréée pour les déchets électriques professionnels (DEEE Pro). Cet engagement volontaire de la société AOIP permet à ses clients de bénéficier de …
SOFIMAE, le laboratoire COFRAC d’AOIP, a le plaisir d’annoncer l’extension de la portée du laboratoire Température, qui intègre dorénavant les Points Fixes de Gallium, d’Etain et d’Argent. Vous trouverez ci-dessous ainsi que sur le site du COFRAC (www.cofrac.fr) le nouveau …
Le Groupe ASGARD renforce ses activités « Instrumentation & Mesures » par l’acquisition de la société DIMELCO qui en devient une filiale à 100%. DIMELCO propose à ses clients depuis plus de 30 ans des instruments de test et de …
